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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:詹哲瑜
研究生(外文):CHAN, CHE-YU
論文名稱:自適應深度殘差收縮網路技術應用於高價值扣件之自動光學品質檢測
論文名稱(外文):Adaptive deep residual shrinkage network technology applied to automatic optical quality inspection of high-value fasteners
指導教授:林志學林志學引用關係謝欽旭謝欽旭引用關係
指導教授(外文):LIN, CHIH-HSUEHSHIEH, CHIN-SHIUH
口試委員:蔡崇煒吳毓恩洪盟峯謝欽旭林志學
口試委員(外文):TSAI, CHUN-WEIWU, YU-ENHORNG, MONG-FONGSHIEH, CHIN-SHIUHLIN, CHIH-HSUEH
口試日期:2022-06-10
學位類別:碩士
校院名稱:國立高雄科技大學
系所名稱:電子工程系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2022
畢業學年度:110
語文別:中文
論文頁數:79
中文關鍵詞:自動光學檢測殘差收縮網路一類支援向量域描述品質檢測
外文關鍵詞:AOIDRSNOCSVMQuality inspection
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