近幾十年來科技日新月異，半導體產業不斷往低成本高效率的方向突破，從現在的智慧手機各種功能來看，光學元件佔有舉足輕重的地位。以目前半導體在光學元件及整合上取得的突破性技術，在增進效率和功能上，多以研究控制微光學來當作研究發展的方向。其中以微透鏡陣列(Microlens array;MLA)的研究，最為容易了解，因其具備可大量陣列和體積小的優點。
本研究微透鏡陣列(Microlens array;MLA)，是為了改良長期以來封裝測試時，因機台硬體問題，在測試時因光照截面積以及強度不足，導致的低良率和重複測試問題。一般來說要加強光照的強度可以均勻的擴散，可以使用微透鏡陣列(Microlens array;MLA)，例如隆達電子其中一項技術就是使用微透鏡陣列，達到超廣角的出光和提升面板亮度為傳統面板的三倍。
本研究將以微透鏡陣列(Microlens array;MLA)作為改善光照面積和強度不足的問題，在試驗的過程中，我們發現角度亦會影響呈現的結果，因此以0和90度角來進行驗證，結果從試驗的資料面上來看，以0度的效果最為顯著。

In recent decades, science and technology have been advancing with each passing day, and the semiconductor industry has continued to make breakthroughs in the direction of low cost and high efficiency. From the perspective of the various functions of today's smart phones, optical components play a decisive role. With the current breakthrough technology of semiconductors in optical components and integration, in terms of improving efficiency and functions, research and control of micro-optics is the direction of research and development. Among them, the research of Microlens array (MLA) is the easiest to understand, because it has the advantages of a large number of arrays and a small size.
The purpose of this research is to improve the low yield and repeated testing problems caused by machine hardware problems during packaging and testing for a long time, and due to insufficient illumination cross-sectional area and insufficient intensity during testing. Generally speaking, to increase the intensity of light to spread evenly, you can use a microlens array (MLA). For example, one of Lunda Electronics' technologies is to use a microlens array to achieve ultra-wide-angle light output and enhance the brightness of the panel as a traditional panel. Tripled.
This research will use the Microlens array (MLA) as the problem to improve the illumination area and insufficient intensity. During the experiment, we found that the angle will also affect the results presented, so we used 0 and 90 degree angles to verify. Results From the data of the experiment, the effect of 0 degrees is the most significant.

中文摘要 ------------------------------------------------------ i
英文摘要 ------------------------------------------------------ ii
致謝 ----------------------------------------------------------- iv
目錄 ----------------------------------------------------------- v
圖目錄 ------------------------------------------------------ viii
表目錄 ------------------------------------------------------ x
第一章 緒論-------------------------------------------------- 1
1.1 前言------------------------------------------------------- 1
1.1.1 微透鏡陣列簡介-------------------------------------------- 1
1.1.2 微透鏡陣列原理-------------------------------------------- 3
1.2 研究背景--------------------------------------------------- 3
1.3 研究動機與目的-------------------------------------------- 5
1.4 章節說明--------------------------------------------------- 6
第二章 文獻探討---------------------------------------------- 7
2.1 微透鏡製程------------------------------------------------- 7
2.1.1光阻熱熔法-------------------------------------------- 7
2.1.2噴墨法------------------------------------------------- 8
2.1.3雷射書寫法-------------------------------------------- 10
2.1.4灰階光罩法-------------------------------------------- 11
2.1.5熱擠壓法----------------------------------------------- 13
2.1.6填充法------------------------------------------------ 15
2.1.7表面張力法-------------------------------------------- 16
2.1.8微影擴散法-------------------------------------------- 18
2.2 微透鏡技術層面-------------------------------------------- 21
2.2.1微射出成型技術--------------------------------------- 21
2.2.2微熱壓成型技術--------------------------------------- 22
2.2.3紫外光UV印壓技術------------------------------------ 23
2.3 微透鏡分類------------------------------------------------- 24
2.3.1折射式微透鏡----------------------------------------- 24
2.3.2繞射式微透鏡----------------------------------------- 24
2.3.3混合式微透鏡----------------------------------------- 24
2.4 機台部分測試介紹------------------------------------------ 25
2.4.1微透鏡陣列(MLA)-------------------------------------- 26
2.5 可調光源儀器介紹------------------------------------------ 27
2.5.1 TLS檢測原理------------------------------------------ 28
第三章 光源檢測方法------------------------------------------ 30
3.1 SA機台介紹------------------------------------------------ 30
3.1.1 SA機體------------------------------------------------ 30
3.1.2 Station B設備----------------------------------------- 31
3.1.3可見光偵測異常原因----------------------------------- 33
3.1.4機台運作流程------------------------------------------ 34
3.2 程式測驗步驟----------------------------------------------- 35
3.2.1取得資料----------------------------------------------- 37
3.2.2安裝MLA位置------------------------------------------ 38
3.3 提升感光元件效能設計-------------------------------------- 39
3.3.1 MLA以0度驗證---------------------------------------- 39
3.3.2 MLA以90度驗證--------------------------------------- 40
3.3.3驗證SPEC範圍----------------------------------------- 41
3.4 校正流程---------------------------------------------- 42
3.4.1手動校正流程圖---------------------------------------- 42
第四章 整合測試結果與比較----------------------------------- 43
4.1 不同角度設定結果與與比較---------------------------------- 43
4.1.1設定MLA 0度後效率變化結果與比較--------------------- 43
4.1.2設定MLA 90度後效率變化結果與比較------------------- 44
第五章 結果與討論-------------------------------------------- 45
參考文獻 ------------------------------------------------------- 49

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