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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:王予強
研究生(外文):WANG, YU-CHIANG
論文名稱:紅外線晶圓檢測機之良率的改進
論文名稱(外文):Improvement of Good Rate for IR Wafer Discern Equipment
指導教授:張雲龍張雲龍引用關係
指導教授(外文):CHANG, WENG-LONG
口試委員:陳洳瑾林威成蕭淳元鐘文鈺陳朝鈞盧瑞琴張雲龍
口試委員(外文):CHEN, JU-CHINLIN, WEI-CHENGHSIAO, CHUN-YUANCHUNG, WEN-YUCHEN, CHAO-CHUNLU, JUI-CHINCHANG, WENG-LONG
口試日期:2021-07-25
學位類別:碩士
校院名稱:國立高雄科技大學
系所名稱:資訊工程系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2021
畢業學年度:109
語文別:中文
論文頁數:39
中文關鍵詞:紅線外攝影機晶圓檢測自動對焦
外文關鍵詞:IR-CameraWafer DiscernAuto Focus
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