[1]Adamo, F., F. Attivissimo, A. D. Nisio, and M. Savino, “A low-cost inspection system for online defects assessment in satin glass,” Measurement, Vol. 42, pp.1304-1311, (2009).
[2]Bhuvanesh, A., and M. M. Ratnam, “Automatic detection of stamping defects in lead-frames using machine vision: Overcoming translational and rotational misalignment,” International Journal of Advanced Manufacturing Technology, Vol. 32, pp.1201-1210, (2006).
[3]Chen, Y. C., J. H. Yu, M. C. Xie, and F. J. Shiou, “Automated optical inspection system for analogical resistance type touch panel,” International Journal of the Physical Sciences, Vol. 6, No. 22, pp.5141-5152, (2011).
[4]Daut, D. G., and Dongiming Zhao, “A Flaw Detection Method Based on Morphological Image Processing,” IEEE Transactions on Circuit and System for Video Technology, Vol.3, No.6, pp.389-398, (1993).
[5]Fezani, F. A. Rahmani, “Wavelets Analysis for Defects Detection in Flat Glass” IMACS Multiconference on Computational Engineering in Systems Applications, CESA, pp. 132-139, (2006).
[6]Lucas, J. M. and M. S., Saccucci, “Exponentially Moving Average Control Schemes: Properties and Enhancements,” Technometrics, Vol. 32, No. 1, pp.1-12, (1990).
[7]Lin, H. D., and D. C. Ho, “Detection of pinhole defects on chips and wafers using DCT enhancement in computer vision systems,” International Journal of Advanced Manufacturing Technology, Vol. 34, No. 5-6, pp.567-583, (2007).
[8]Lin, H. D., “Automated visual inspection of ripple defects using wavelet characteristic based multivariate statistical approach,” Image and Vision Computing, Vol. 25, Issue 11, pp.1785-1801, (2007).
[9]Lin, H. D., “Computer-aided visual inspection of surface defects in ceramic capacitor chips,” Journal of Materials Processing Technology, Vol. 189, Issues 1-3, pp.19-25, (2007).
[10]Lin, H. D., “Automated detection of light-emitting-diode chip surface blemishes on two background textures”, Optical Engineering, 47(1), 017201, January, (2008).
[11]Lin, H. D., “Tiny surface defect inspection of electronic passive components using Discrete Cosine Transform decomposition and cumulative sum techniques,” Image and Vision Computing, Vol. 26, Issue 5, pp.603-621, (2008).
[12]Lin, H. D., “Automated defect inspection of light-emitting diode chips using neural network and statistical approaches,” Expert Systems with Applications, Vol. 36, No. 1, pp.219-226, (2009).
[13]Lin, H. D., and Y. S., Chiu, “Computer-aided quality system for visual blemish inspection on epoxy packages,” Scientia Iranica, Transaction E: Industrial Engineering, Vol. 18, No. 6, pp.1591-1599, (2011).
[14]Lin, H. D. and H. H., Tsai, “Automated quality inspection of surface defects on touch panels,” Journal of the Chinese Institute of Industrial Engineers, Vol. 29, No. 5, pp.291-302, (2012).
[15]Malamas, E. N., E. G. M. Petrakis, M. Zervakis, L. Petit, and J. D. Legat, “A survey on industrial vision system, applications, and tools,” Image and Vision Computing, Vol. 21, pp.171-188, (2003).
[16]Nakashima, K., “Hybrid inspection system for LCD color filter panels”, Tenth International Conference on Instrumentation and Measurement Technology, Hamamatsu, 689-692, (1994).
[17]Ng, H. F., “Automatic thresholding for defect detection”, Pattern Recognition Letters, 27, 1644–1649, (2006).
[18]Oh, Cheng-Hwan, Joo, Hyonam, and Rew, Keun-Ho, “Detecting Low-Contrast Defect Regions on Glasses Using Highly Robust Model-Fitting Estimator”, International Conference on Control, Automation and Systems, 978-89-950038-6-2-98560, pp.2138-2141, (2007).
[19]Pyzdek, T. “The Debate over Exponentially Weighted Moving Average,” Quality Engineering, Vol. 9, No. 1, pp. IV-V, (1997).
[20]Park, C. H., and H. Park, “Fingerprint classification using fast Fourier transform and nonlinear discriminant analysis,” Pattern Recognition, Vol. 38, pp.495-503, (2005).
[21]Perng, Der-Baau, Cheng-Chuan Chou and Wei-Yu Cheng, “A novel vision system for CRT panel auto-inspection”, Journal of the Chinese Institute of Industrial Engineers, Vol.24, No.5, pp.341-350, (2007).
[22]Perng, D. B., and S. H. Chen, “Directional textures auto-inspection using discrete cosine transform,” Internaational Journal of Production Research, Vol. 49, No. 23, pp.7171-7187, (2011).
[23]Rosta, G., G. Boschetti, A. Biondi and A. Rossi, “Real-time defect detection on highly reflective curved surface”, Optice and Lasers in Engineering, 47, 379-384, (2009).
[24]Sokolov, S.M. A.S. Treskunov, “Automatic vision system for final test of liquid crystal displays,”IEEE International Conference on Robotics and Automation, Vol.2, pp.1575-1992.
[25]Tsai, D. M., S. T. Chuang, and Y. H. Tseng, “One-dimensional-based automatic defect inspection of multiple patterned TFT-LCD panels using Fourier image reconstruction,” International Journal of Production Research, Vol. 45, pp.1297-1321, (2007).
[26]Tsai, D. M., and W. C. Li, “Defect inspection in low-contrast LCD images using Hough transform-based nonstationary line detection,” IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 7, pp. 136-147, (2011).
[27]Tsai, D. M., S. C. Wu and W. Y. Chiu, “Defect Detection in Solar Modules Using ICA Basis Images,” IEEE Transactions on Industrial Informatics, vol. 9, pp.122, (2012).
[28]Tsai, D. M., and W. C. Li, “Wavelet-based defect detection in solar wafer images with inhomogeneous texture,” Pattern Recognition, vol. 45, pp.742-756, (2012).
[29]王麗青等人,「一個改進的簡單多邊形凸包算法」,長沙中南大學信息物理工程學院,計算機工程,第33卷,第3期,pp.200-201,(2007)。
[30]王曉潔、鄭小東,「基於雙向極角的植物葉凸包生成算法」,鄭州大學機械工程學院、航空工業管理學院計算機科學與應用系,農機化研究,第39卷,第10期,pp.173-175,(2009)。
[31]生活百科,愛車一族,怎樣才能用好汽車後鏡http://www.shbk365.com/02automobile/jiashijishu/jstt/j093650806232018.asp
[32]江健,「尋找平面上點的凸殼」,蘭州交通大學數理與軟件工程學院,重慶工學院學報(自然科學版),第21卷,第9期,pp.15-17,(2007)。
[33]吳木杏,「彩色濾片表面瑕疵檢測分析」,碩士論文,國立台灣大學資訊工程學研究所,台北(2000)。[34]吳旻頤,「透明玻璃之瑕疵偵測與瑕疵正反面位置判斷」,朝陽科技大學工業工程與管理所,碩士論文,台中(2008)。[35]吳怡潔,「連結器腳位瑕疵視覺檢測模組之開發」,碩士論文,國立屏東科技大學機械工程系所,屏東(2012)。
[36]宋懷波等人,「基於凸殼理論的遮擋蘋果目標識別與定位方法」,西北農林科技大學機電學院,農業工程學報,第28卷,第22期,pp.174-180,(2012)。
[37]余翔宇等人,「改進的二維點集凸包快速求取方法」,武漢大學電子信息學院,武漢理工大學學報,第27卷,第10期,pp.81-83,(2005)。
[38]林宏達、鄭旭宏,「車用後視鏡之自動化表面瑕疵檢測與分類」,2012工業工程學術研討會,(2012)。
[39]俞梅,「一種建構平面離散點集凸包的算法研究」,上海應用技術學院機械與自動化工程學院,第3卷,第2期,pp.118-120,(2003)。
[40]胡充佑,「少量多樣製程之微量異常偏移管制探討-以印刷電路板底片自動化檢測為例」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2000)。[41]徐士殷,「應用區塊離散餘弦轉換搭配灰聚類演算法檢測曲面光學元件之可視瑕疵」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2008)。[42]唐珮玲,「應用HHT於曲面光學元件之可視瑕疵檢測」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2011)。[43]張家毅,「應用機器視覺於磁磚尺寸檢測之研究」,碩士論文,國立台灣科技大學自動化及控制研究所,台北(2010)。[44]黃琮淵(2012,8月16日)。中華汽車外銷中東 首年目標1000輛。中時電子報。
[45]黃智政,「應用區塊離散餘弦轉換搭配灰預測模式檢測車用鏡面玻璃表面瑕疵」,朝陽科技大學工業工程與管理所,碩士論文,台中(2009)。[46]曾箏等人,「基於凸包算法的三維表面重建中邊緣輪廓提取」,湖北武漢華中科技大學水電與數字化工程學院,微機發展,第14卷,第12期,pp.39-44,(2004)。
[47]邱學源,「導光板品質自動檢測系統之研製」,碩士論文,國立高雄第一科技大學機械與自動化工程所,高雄(2003)。[48]游舜豪,「應用高解析度線掃瞄CCD於ITO導電玻璃表面瑕疵檢測之研究」,碩士論文,國立台灣科技大學自動化及控制研究所,台北(2005)。[49]楊四海等人,「圖像目標外接多邊形及凸殼的一種構造方法」,泉州華僑大學計算機科學系,機算機輔助設計與圖形學學報,第19卷,第10期,pp.1263-1268,(2007)。
[50]廖英翔,「印刷電路板佈線弧度之自動化檢測與製程管制探討-以具可撓曲特性之軟性電路板為例」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2002)。[51]維基百科,凸包演算法http://zh.wikipedia.org/wiki/%E5%87%B8%E5%8C%85
[52]福華明鏡股份有限公司http://www.fu-hwa.com.tw/c-index.htm
[53]樊廣佺等人,「平面點集凸殼的一種近似算法」,北京科技大學信息工程學院,機算機工程與應用,第43卷,第12期,pp.40-42,(2007)。
[54]劉繼煥,「積層陶瓷電容製程中電容晶片端面弧度之自動化檢測與製程管制探討」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2000)。[55]劉紀遠等人,「凸殼原理用於城市用空地空間擴展類型識別」,北京中科院地理科學與資源研究所,地理學報,第58卷,第6期,pp.885-892,(2003)。
[56]陳育寬,「考慮隨機偏移及品質損失下最佳的EWMA和CUSUM管制圖設計」,碩士論文,國立台灣大學工業工程研究所,台北(2000)。[57]陳宗達,「CMOS玻璃蓋片自動光學檢測機台之設計及開發」,第五屆全國AOI論壇(2005)。
[58]陳朝治,「應用影像處理與類神經網路於ITO導電玻璃之瑕疵分類」,碩士論文,國立台灣科技大學自動化及控制研究所,台北(2007)。[59]陳興倫,「使用小波包分解與部份最小平方法於光學元件之可視瑕疵檢測」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2009)。[60]陳韋吉,「透明玻璃之自動化可視瑕疵檢測」,朝陽科技大學工業工程與管理所,碩士論文,台中(2010)。[61]陳柏安,「背光滑鼠瑕疵機器視覺檢測系統」,碩士論文,國立交通大學工業工程與管理學系,新竹(2011)。[62]謝文欽,「數種快速的Convex Hull 演算法」,碩士論文,淡江大學資訊工程研究所,台北(1993)。[63]戴光明等人,「凸多邊形最小面積四邊形包圍盒算法」,湖北武漢中國地質大學計算機學院,華中科技大學學報(自然科學版),第34卷,第6期,pp.71-73,(2006)。
[64]鐘凱騰,「電腦視覺系統應用於球狀工件之表面瑕疵檢測」,碩士論文,朝陽科技大學工業工程與管理所,台中(2009)。[65]蔡文婷、劉志,「基於凸包算法的二維條碼定位」,浙江工業大學軟件學院,浙江工業大學學報,第36卷,第6期,pp.669-672,(2008)。
[66]蘇培嘉,「鐵蛋缺陷檢測」,碩士論文,國立台灣科技大學機械工程系,台北(2010)。[67]蘇朝敦,品質管理,前程文化事業有限公司,台北(2010)。
[68]繆紹綱,數位影像處理,台灣培生教育出版股份有限公司,台北(2009)。