臺灣博碩士論文加值系統

在可靠度驗證中高溫動作試驗主要是加速產品老化，以了解產品對環境耐受程度或篩選早夭失效產品，因此，在液晶顯示器的產業裡，設計人員通常是藉以觀察產品內電子元件及材料是否受高溫影響而導致產品產生瑕疵或喪失其功能。
本研究主要在探討顯示異常類中的畫面間歇性閃爍品質問題，並運用實驗設計的分析方法來探討液晶顯示模組在高溫動作試驗下有哪些關鍵的操作變數。由實驗的分析結果發現，影響液晶顯示模組在高溫動作試驗下的品質變異主要為溫度、畫面、畫面更新頻率及時間，同時這也是影響液晶顯示模組驅動迴路負載的主要操作條件。驗證本研究的成果發現，可大幅下降顯示異常類不良約73.87%的，在實質效益上將可減少約1萬美金的品質失敗成本及292個維修工時。同時也可回饋給研發設計人員於驅動迴路上未減額設計缺失的改善。

In “Reliability Verification” high temperature operation test is mainly to accelerate aging to product, so to understand the environmental tolerance or to filter premature mortality of the product. Hence, in the liquid crystal display industry, designers often use this test to observe the impact of high temperature on the electronic components and materials, to see whether it result in defects or loss of function of the product.
This research mainly is to investigate the intermittent flickering problem in display abnormal item, and to use “design of experiment” to analyze key operating variables on high temperature operation test in liquid crystal display module. Adopting a case study of the TFT-LCD testing industry, the main variations are temperature, pattern, frame rate and time. Meanwhile they are also the main operating conditions on the driving circuit load in the liquid crystal display module. Verifying the results of this research, we found display abnormal item dropped about 73.87%, which means in realistic terms a reduction of $10,000 USD of quality failure costs and 292 hours repair time. Also rewards can go to research and development personnel for improvement on the driving circuit.

摘要 i
ABSTRACT ii
誌謝 iii
目錄 iv
圖目錄 vi
表目錄 viii
第一章 緒論 1
1-1 研究背景 1
1-2 研究動機 2
1-3 研究目的 3
1-4 研究範圍及限制 3
1-5 研究架構 4
第二章 文獻探討 5
2-1 可靠度試驗 5
2.1.1 整體試驗之規劃 5
2.1.2 產品的可靠度成長趨勢 6
2-2 TFT-LCD製程及材料特性介紹 13
2.2.1 Array製程及材料特性 14
2.2.2 Cell製程及材料特性 17
2.2.3 Module製程及材料特性 22
2.2.4 TFT-LCD驅動系統 25
2-3 TFT-LCD高溫動作試驗相關文獻 28
2-4 實驗設計方法介紹 29
第三章 研究方法 34
3-1 定義相關實驗及實驗方法 35
3.1.1 定義畫面閃爍不良問題與模組 35
3.1.2 穩壓元件電流監控作法 36
3.1.3 導光板溫度的監控 37
3-2 實驗設計展開 38
3.2.1 定義實驗因子及水準之範圍 38
3.2.2 定義部分因子實驗設計 41
第四章 數據分析及驗證 44
4-1 篩選顯著效應與模式適合性檢定 46
4-2 變異數分析與最佳化分析 48
4-3 高溫試驗條件最佳化確認 50
4.3.1 導光板溫度監控 50
4.3.2 畫面閃爍不良檢出率確認 52
4-4 畫面閃爍不良解析及改善 53
4.4.1 畫面閃爍不良解析 53
4.4.2 畫面閃爍改善對策 56
4.4.3 優化驗證機制 57
第五章 結論及建議 60
5-1 研究結論 60
5-2 後續研究建議 61
參考文獻 62
網路資料 64
附錄一：類比積體電路減額標準 65

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